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导致测试治具测试不良的原因有哪些

一：短路不良

  短路不良指两个点(不在同一短路群内，即本来应该大于25Ω(或25-55Ω))的电阻小于5Ω(或5-15Ω)，可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证。

  可能原因：(1)错件，多装器件;(2)连焊;(3)测试针接触到别的器件;(4)继电器、开关或变阻器的位置有变化;(5)PCB上铜箔之间短路。

  二：IC空焊不良

  可能原因：(1)测试针接触不良;(2)从测试点至IC脚之间Open;(3)IC的此脚空焊;(4)IC此脚的内部不良(可能性较少)。

  三：开路不良

  开路不良只针对某一短路群而言，例如：短路群：<1，4，精密零件加工厂，10，12>，精密零件加工中心，测试治具测试出1，10开路不良，表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω(或55-85Ω)，可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证;

可能原因：(1)继电器、开关或变阻器的位置有变化;(2)测试点上有松香等绝缘物品;(3)某一元器件漏装、焊接不良、错件等;(4)PCB上铜箔断裂，或ViaHole与铜箔之间Open;(5)测试针坏掉，或针型与待测板上的测试点不适合。

南昌鑫和盛精密模具有限公司是深圳鑫和盛五金有限公司旗下子公司之一成立于2010年、座落于南昌市经济技术开发区金太阳对面56---57号、公司是一家专业生产精密模具、夹具、治具 自动化设备 冲压件加工  电子产品 精密零配件加工制作为主的企业。　公司在模具、夹具、治具 自动化设备 冲压件 精密零配件生产制造方面有着丰富的经验和专业性。

测针是测试治具中重要的零件，因为测试冶具的测试全靠测针来完成，但是如果测针在使用过程中出现钝化的现象应该如何进行校正呢？

　　首先，子系统的成本通常比传统测试平台要高，樟树市精密零件，尤其是后者是通用设备可用于多种场合的时候。此外，测试治具模型环境下的子系统维护非常复杂、耗时且成本高。

　　集中式维修中心很快就会被不断出现的模型子系统填满，而每个都需要特定的文件和培训、操作指导与维护。治具是一个常规测试环境，包括与被测设备之间的激励/响应接口、专门测试规程规定的测试序列与控制。

　　激励与响应通常由标准电源及实验仪器、**开关、负载以及终端自定义电子设备(如数字激励)提供。

　　在这里测试治具是非常重要的一个部分，精密零件有限公司，可提供到被测设备正确的信号路径和连通。在很多情况下，基本上是针对每个应用而定制的，需要结合手工操作进行设置。

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